基于3D分光干涉儀的偏光片薄膜溝槽深度檢測方案

液晶屏能夠顯示各種信息給人類，是現(xiàn)代電子技術(shù)、人工智能的重要基礎(chǔ)單位，是人機(jī)交互的重要通道，具有十分重要的價值。液晶屏中最新的是源矩陣有機(jī)發(fā)光二級面板顯示屏(amoled)，因其特性受到了業(yè)界的廣泛關(guān)注，其中偏光片是它的重要組成部分。偏光片分別由保護(hù)膜、三醋酸纖維素膜（TAC）、聚乙烯醇膜（PVA）、離型膜和壓敏膠等結(jié)構(gòu)層組成。在生產(chǎn)過程中，將原材料的膜通過拉伸、擴(kuò)大等制作工藝，最終使偏光片整體透光效果均勻，從而為amoled的均勻發(fā)光效果提供保障。

偏光片是一種常見的偏振光學(xué)元件，應(yīng)用非常廣泛，在薄膜電晶體液體顯示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)型液晶顯示面板中，必有兩層偏振方向正交的偏光片。偏光片成品一般由 6 層微米級厚度的透明聚合物薄膜組成，其外觀缺陷可能出現(xiàn)在任何一層。一旦出現(xiàn)凸凹點、異物、氣泡、劃痕等外觀缺陷會直接降低顯示面板的質(zhì)量等級，甚至導(dǎo)致整個面板報廢，因此，偏光片外觀缺陷檢測就變得尤為重要。

案例要求

1、案例需求：薄膜溝槽深度測量

2、解決方案：

采用3D飛點分光干涉儀系列，采集薄膜劃痕狹縫數(shù)據(jù)，用GIVS 3D進(jìn)行檢測。